Тестер микросхем FT17 – одна из самых масштабных разработок ООО "Совтест АТЕ", и одна из самых технологически сложных. Только один измерительный модуль тестера FT17, состоит из 6 000 компонентов: около 35 000 паяных соединений, из них 45 - это микросхемы в корпусах BGA.
Избежать дефектов при производстве подобного изделия – сложная задача для любого производства. Поэтому для поддержания высокого качества, а также минимизации рисков и производственных издержек - необходимо обеспечить поэтапный контроль каждой технологической операции.
Отдельное внимание стоит уделять предварительной подготовке производства, в том числе проверке исходных данных на соответствие стандартам и техническим требованиям производственной линии.Анализ технологичности ПроектаИзделия на нашем предприятии проходят DFM (Design for Manufacturing) анализ. Такой анализ - неотъемлемая часть современного производства. Он позволяет проверить топологию платы, общую конструкцию и перечень компонентов еще до запуска производства. Читать статью полностью